| 序号 | 标准号 | 标准名称 |
1 | NF C94-234-1997 | 无线电发射机的测量方法.第14部分:使用同样的或临近天线的两个或更多的发射机产生的外部相互调制产物 NF C94-234:1997、NF C94-234、AFNOR C94-234、NF C 94-234、NF-C94-234 |
2 | NF C94-235-2000 | 无线电发射机的测量方法.第15部分:声音广播用的调幅发射机 NF C94-235:2000、NF C94-235、AFNOR C94-235、NF C 94-235、NF-C94-235 |
3 | NF C94-272-1-2004 | 全球数字广播(DRM).第1部分:系统规范 NF C94-272-1:2004、NF C94-272-1、AFNOR C94-272-1、NF C 94-272-1、NF-C94-272-1 |
4 | NF C94-566-1998 | 射频电磁场暴露测量.频率范围100KHZ-1GHZ的场强 NF C94-566:1998、NF C94-566、AFNOR C94-566、NF C 94-566、NF-C94-566 |
5 | NF C94-864-2-1998 | 广播传输或传输系统和管理设备之间互联标准,第2部分:用数据总线型互联界面标准 NF C94-864-2:1998、NF C94-864、AFNOR C94-864-2、NF C 94-864-2、NF-C94-864-2 |
6 | NF C95-230-2004 | 阴极射线管的机械安全 NF C95-230:2004、NF C95-230、AFNOR C95-230、NF C 95-230、NF-C95-230 |
7 | NF C96-001-1984 | 电子元件.半导体器件.分立元件和集成电路.第1部分:总则 NF C96-001:1984、NF C96-001、AFNOR C96-001、NF C 96-001、NF-C96-001 |
8 | NF C96-002-2001 | 半导体器件.分立器件和集成电路.第2部分:整流二极管 NF C96-002:2001、NF C96-002、AFNOR C96-002、NF C 96-002、NF-C96-002 |
9 | NF C96-003-1986 | 半导体器件.分立器件和集成电路.第3部分:信号(包括开关)和整流二极管 NF C96-003:1986、NF C96-003、AFNOR C96-003、NF C 96-003、NF-C96-003 |
10 | NF C96-005-1/A1-2002 | 分立式半导体器件和集成电路.第5-1部分:光电器件.通则 NF C96-005-1/A1:2002、NF C96-005、AFNOR C96-005-1/A1、NF C 96-005-1/A1、NF-C96-005-1/A1 |
11 | NF C96-005-1/A2-2002 | 半导体分立器件和集成电路.第5-1部分:光电子器件.总则 NF C96-005-1/A2:2002、NF C96-005-1/A2、AFNOR C96-005-1/A2、NF C 96-005-1/A2、NF-C96-005-1/A2 |
12 | NF C96-005-1-2001 | 半导体分立器件和集成电路.第5-1部分:光电器件.总则 NF C96-005-1:2001、NF C96-005-1、AFNOR C96-005-1、NF C 96-005-1、NF-C96-005-1 |
13 | NF C96-005-1994 | 分立器件和集成电路.第5部分:光电器件测量方法 NF C96-005:1994、NF C96-005、AFNOR C96-005、NF C 96-005、NF-C96-005 |
14 | NF C96-005-2/A1-2003 | 半导体分立器件和集成电路.第5-2部分:光电子器件.基本额定值及特性 NF C96-005-2/A1:2003、NF C96-005-2/A1、AFNOR C96-005-2/A1、NF C 96-005-2/A1、NF-C96-005-2/A1 |
15 | NF C96-005-2-2001 | 分立半导体器件和集成电路.第5-2部分:光电器件.基本额定值和特性 NF C96-005-2:2001、NF C96-005-2、AFNOR C96-005-2、NF C 96-005-2、NF-C96-005-2 |
16 | NF C96-005-3/A1-2002 | 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器件.测量方法 NF C96-005-3/A1:2002、NF C96-005-3/A1、AFNOR C96-005-3/A1、NF C 96-005-3/A1、NF-C96-005-3/A1 |
17 | NF C96-005-3-2001 | 分立半导体器件和集成电路.第5-3部分:光电设备.测量方法 NF C96-005-3:2001、NF C96-005-3、AFNOR C96-005-3、NF C 96-005-3、NF-C96-005-3 |
18 | NF C96-006-1984 | 电子元器件.半导体器件.分立器件和集成电路.第6部分:可控硅元件 NF C96-006:1984、NF C96-006、AFNOR C96-006、NF C 96-006、NF-C96-006 |
19 | NF C96-007-1989 | 半导体器件.分立器件和集成电路.第7部分:二极管 NF C96-007:1989、NF C96-007、AFNOR C96-007、NF C 96-007、NF-C96-007 |
20 | NF C96-008-1985 | 半导体器件.分立器件和集成电路.第8部分:场效应晶体管 NF C96-008:1985、NF C96-008、AFNOR C96-008、NF C 96-008、NF-C96-008 |
21 | NF C96-012-2000 | 集成电路.存储器件插脚配置 NF C96-012:2000、NF C96-012、AFNOR C96-012、NF C 96-012、NF-C96-012 |
22 | NF C96-013-3-2000 | 半导体装置的机械标准化.第3部分:集成线路轮廓绘图准备的一般规则 NF C96-013-3:2000、NF C96-013-3、AFNOR C96-013-3、NF C 96-013-3、NF-C96-013-3 |
23 | NF C96-013-4/A1-2002 | 半导体器件的机械标准化.第4部分:半导体器件封装外形图类型的划分和编码系统 NF C96-013-4/A1:2002、NF C96-013、AFNOR C96-013-4/A1、NF C 96-013-4/A1、NF-C96-013-4/A1 |
24 | NF C96-013-4/A2-2003 | 半导体器件的机械标准化.第4部分:半导体器件封装外形形状的分类和编码系统 NF C96-013-4/A2:2003、NF C96-013-4/A2、AFNOR C96-013-4/A2、NF C 96-013-4/A2、NF-C96-013-4/A2 |
25 | NF C96-013-4-2000 | 半导体器件的机械标准化.第4部分:半导体器件封装外形的编码系统和分类形式 NF C96-013-4:2000、NF C96-013、AFNOR C96-013-4、NF C 96-013-4、NF-C96-013-4 |
26 | NF C96-013-6-10-2004 | 半导体器件的机械标准化.第6部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则.P-VSON的尺寸 NF C96-013-6-10:2004、NF C96-013-6-10、AFNOR C96-013-6-10、NF C 96-013-6-10、NF-C96-013-6-10 |
27 | NF C96-013-6-1-2002 | 半导体器件的机械标准化.第6-1部分:平面式安装半导体器件外壳外形图绘制的一般规则.海鸥翼式铅终端的设计指南 NF C96-013-6-1:2002、NF C96-013-6-1、AFNOR C96-013-6-1、NF C 96-013-6-1、NF-C96-013-6-1 |
28 | NF C96-013-6-12-2002 | 半导体器件的机械标准化.第6-12部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则.矩形小节距栅极矩阵列的设计指南 NF C96-013-6-12:2002、NF C96-013-6-12、AFNOR C96-013-6-12、NF C 96-013-6-12、NF-C96-013-6-12 |
29 | NF C96-013-6-2-2002 | 半导体器件的机械标准化.第6-2部分:绘制表面安装半导体器件封装外形图的一般规则.1.5mm、1.27mm和1.00mm树脂球和引线端子封装的设计指南 NF C96-013-6-2:2002、NF C96-013-6-2、AFNOR C96-013-6-2、NF C 96-013-6-2、NF-C96-013-6-2 |
30 | NF C96-013-6-3-2001 | 半导体装置的机械标准化.第6-3部分:半导体装置包装的表面安装的绘图制备的一般规则.四方块包装件包装尺寸的测量方法 NF C96-013-6-3:2001、NF C96-013-6-3、AFNOR C96-013-6-3、NF C 96-013-6-3、NF-C96-013-6-3 |
31 | NF C96-013-6-4-2003 | 半导体器件的机械标准化.第6-4部分:绘制表面安装半导体器件封装外形图的一般规则.焊球网格阵列(BGA)封装尺寸的测量方法 NF C96-013-6-4:2003、NF C96-013-6-4、AFNOR C96-013-6-4、NF C 96-013-6-4、NF-C96-013-6-4 |
32 | NF C96-013-6-5-2002 | 半导体器件的机械标准化.第6-5部分:表面安装半导体器件外壳外形图绘制的一般规则.小螺距刃片栅格排列的设计指南 NF C96-013-6-5:2002、NF C96-013-6-5、AFNOR C96-013-6-5、NF C 96-013-6-5、NF-C96-013-6-5 |
33 | NF C96-013-6-6-2002 | 半导体器件的机械标准化.第6-6部分:平面式安装半导体器件外壳外形图绘制的一般规则.小螺距刃片栅格排列的设计指南 NF C96-013-6-6:2002、NF C96-013-6-6、AFNOR C96-013-6-6、NF C 96-013-6-6、NF-C96-013-6-6 |
34 | NF C96-013-6-8-2002 | 半导体器件的机械标准化.第6-8部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则.玻璃密封的陶瓷四边形扁平组件的设计指南(G-QFP) NF C96-013-6-8:2002、NF C96-013-6-8、AFNOR C96-013-6-8、NF C 96-013-6-8、NF-C96-013-6-8 |
35 | NF C96-016-1-2003 | 半导体器件.第16-1部分:微波集成电路.放大器 NF C96-016-1:2003、NF C96-016-1、AFNOR C96-016-1、NF C 96-016-1、NF-C96-016-1 |
36 | NF C96-016-3-2003 | 半导体器件.第16-3部分:微波集成电路.变频器 NF C96-016-3:2003、NF C96-016-3、AFNOR C96-016-3、NF C 96-016-3、NF-C96-016-3 |
37 | NF C96-016-4-2004 | 半导体器件.第16-4部分:微波集成电路.开关 NF C96-016-4:2004、NF C96-016、AFNOR C96-016-4、NF C 96-016-4、NF-C96-016-4 |
38 | NF C96-022-10-2002 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分:机械振动 NF C96-022-10:2002、NF C96-022、AFNOR C96-022-10、NF C 96-022-10、NF-C96-022-10 |
39 | NF C96-022-11-2002 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法 NF C96-022-11:2002、NF C96-022-11、AFNOR C96-022-11、NF C 96-022-11、NF-C96-022-11 |
40 | NF C96-022-1-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则 NF C96-022-1:2003、NF C96-022-1、AFNOR C96-022-1、NF C 96-022-1、NF-C96-022-1 |
41 | NF C96-022-12-2002 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分:振动、可变频率 NF C96-022-12:2002、NF C96-022-12、AFNOR C96-022-12、NF C 96-022-12、NF-C96-022-12 |
42 | NF C96-022-13-2002 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分:盐性环境 NF C96-022-13:2002、NF C96-022-13、AFNOR C96-022-13、NF C 96-022-13、NF-C96-022-13 |
43 | NF C96-022-14-2004 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第14部分:终端的坚固性(铅完整性) NF C96-022-14:2004、NF C96-022-14、AFNOR C96-022-14、NF C 96-022-14、NF-C96-022-14 |
44 | NF C96-022-15-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第15部分:通孔安装设备的耐钎焊温度 NF C96-022-15:2003、NF C96-022-15、AFNOR C96-022-15、NF C 96-022-15、NF-C96-022-15 |
45 | NF C96-022-16-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子碰撞噪声探测(PIND) NF C96-022-16:2003、NF C96-022-16、AFNOR C96-022-16、NF C 96-022-16、NF-C96-022-16 |
46 | NF C96-022-17-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照 NF C96-022-17:2003、NF C96-022-17、AFNOR C96-022-17、NF C 96-022-17、NF-C96-022-17 |
47 | NF C96-022-18-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射(总剂量) NF C96-022-18:2003、NF C96-022-18、AFNOR C96-022-18、NF C 96-022-18、NF-C96-022-18 |
48 | NF C96-022-19-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第19部分:模剪切强度试验 NF C96-022-19:2003、NF C96-022-19、AFNOR C96-022-19、NF C 96-022-19、NF-C96-022-19 |
49 | NF C96-022-20-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第20部分:塑料密封的SMDs抗湿气和钎焊热的综合影响 NF C96-022-20:2003、NF C96-022-20、AFNOR C96-022-20、NF C 96-022-20、NF-C96-022-20 |
50 | NF C96-022-2-2002 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压 NF C96-022-2:2002、NF C96-022-2、AFNOR C96-022-2、NF C 96-022-2、NF-C96-022-2 |
51 | NF C96-022-22-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第22部分:粘接强度 NF C96-022-22:2003、NF C96-022-22、AFNOR C96-022-22、NF C 96-022-22、NF-C96-022-22 |
52 | NF C96-022-23-2004 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命 NF C96-022-23:2004、NF C96-022-23、AFNOR C96-022-23、NF C 96-022-23、NF-C96-022-23 |
53 | NF C96-022-25-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第25部分:温度循环 NF C96-022-25:2003、NF C96-022-25、AFNOR C96-022-25、NF C 96-022-25、NF-C96-022-25 |
54 | NF C96-022-29-2004 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第29部分:闭锁试验 NF C96-022-29:2004、NF C96-022-29、AFNOR C96-022-29、NF C 96-022-29、NF-C96-022-29 |
55 | NF C96-022-31-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第31部分:塑料密封器件的易燃性(内部引起的) NF C96-022-31:2003、NF C96-022-31、AFNOR C96-022-31、NF C 96-022-31、NF-C96-022-31 |
56 | NF C96-022-3-2002 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验 NF C96-022-3:2002、NF C96-022-3、AFNOR C96-022-3、NF C 96-022-3、NF-C96-022-3 |
57 | NF C96-022-32-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料封装器件的易燃性(外部引起) NF C96-022-32:2003、NF C96-022-32、AFNOR C96-022-32、NF C 96-022-32、NF-C96-022-32 |
58 | NF C96-022-36-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第36部分:稳态加速 NF C96-022-36:2003、NF C96-022-36、AFNOR C96-022-36、NF C 96-022-36、NF-C96-022-36 |
59 | NF C96-022-4-2002 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验 NF C96-022-4:2002、NF C96-022-4、AFNOR C96-022-4、NF C 96-022-4、NF-C96-022-4 |
60 | NF C96-022-5-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差耐久性试验 NF C96-022-5:2003、NF C96-022-5、AFNOR C96-022-5、NF C 96-022-5、NF-C96-022-5 |
61 | NF C96-022-6-2002 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存 NF C96-022-6:2002、NF C96-022-6、AFNOR C96-022-6、NF C 96-022-6、NF-C96-022-6 |
62 | NF C96-022-7-2002 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部水分含量的测量 NF C96-022-7:2002、NF C96-022-7、AFNOR C96-022-7、NF C 96-022-7、NF-C96-022-7 |
63 | NF C96-022-8-2003 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第8部分:密封 NF C96-022-8:2003、NF C96-022-8、AFNOR C96-022-8、NF C 96-022-8、NF-C96-022-8 |
64 | NF C96-022-9-2002 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性 NF C96-022-9:2002、NF C96-022-9、AFNOR C96-022-9、NF C 96-022-9、NF-C96-022-9 |
65 | NF C96-031-1-1990 | IEC821VME总线.第1部分:1~4字节数据微处理机系统总线 NF C96-031-1:1990、NF C96-031-1、AFNOR C96-031-1、NF C 96-031-1、NF-C96-031-1 |
66 | NF C96-031-2-1990 | IEC821VME总线.第2部分:1~4字节数据微处理机系统总线 NF C96-031-2:1990、NF C96-031、AFNOR C96-031-2、NF C 96-031-2、NF-C96-031-2 |
67 | NF C96-032-1992 | IEC822VSB.IEC821VME总线的平行子系统总线 NF C96-032:1992、NF C96-032、AFNOR C96-032、NF C 96-032、NF-C96-032 |
68 | NF C96-033-1992 | 有关微处理机的术语 NF C96-033:1992、NF C96-033、AFNOR C96-033、NF C 96-033、NF-C96-033 |
69 | NF C96-036-1992 | 微处理机系统用二进制浮点运算法 NF C96-036:1992、NF C96-036、AFNOR C96-036、NF C 96-036、NF-C96-036 |
70 | NF C96-037-2000 | 集成电路.生产线验收应用指南 NF C96-037:2000、NF C96-037、AFNOR C96-037、NF C 96-037、NF-C96-037 |
71 | NF C96-045-1992 | 半导体器件.集成电路.第11部分:半导体集成电路(混合电路除外)的分规范 NF C96-045:1992、NF C96-045、AFNOR C96-045、NF C 96-045、NF-C96-045 |
72 | NF C96-200-1983 | 微型结构.逻辑微型结构.一般规定 NF C96:200:1983、NF C96-200、AFNOR C96-200、NF C 96-200、NF-C96-200 |
73 | NF C96-251-1983 | 微型结构.逻辑微型结构.编程序存储器 NF C96-251:1983、NF C96-251、AFNOR C96-251、NF C 96-251、NF-C96-251 |
74 | NF C96-260-1-2002 | 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义 NF C96-260-1:2002、NF C96-260-1、AFNOR C96-260-1、NF C 96-260-1、NF-C96-260-1 |
75 | NF C96-260-4-2002 | 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第4部分:传导辐射的测量.1ohm/150ohm直接耦合法 NF C96-260-4:2002、NF C96-260-4、AFNOR C96-260-4、NF C 96-260-4、NF-C96-260-4 |
76 | NF C96-260-5-2003 | 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第5部分:工作台法拉第筒法测量感应辐射 NF C96-260-5:2003、NF C96-260-5、AFNOR C96-260-5、NF C 96-260-5、NF-C96-260-5 |
77 | NF C96-260-6-2003 | 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射测量.磁探测器法 NF C96-260-6:2003、NF C96-260、AFNOR C96-260-6、NF C 96-260-6、NF-C96-260-6 |
78 | NF C96-313-1989 | 微型结构.超高频微电子学.低和中等放大器.一般规定 NF C96-313:1989、NF C96-313、AFNOR C96-313、NF C 96-313、NF-C96-313 |
79 | NF C96-315-1987 | 微型结构.超高频微电子学.超高频微电子学及其同样规定的有关装置.衰减器和负载 NF C96-315:1987、NF C96-315、AFNOR C96-315、NF C 96-315、NF-C96-315 |
80 | NF C96-316-1988 | 微波装置.环行器.绝缘子 NF C96-316:1988、NF C96-316、AFNOR C96-316、NF C 96-316、NF-C96-316 |
81 | NF C96-317-1988 | 微波装置.同轴和波导继电器和开关 NF C96-317:1988、NF C96-317、AFNOR C96-317、NF C 96-317、NF-C96-317 |
82 | NF C96-318-1991 | 超高频装置.有源延迟线 NF C96-318:1991、NF C96-318、AFNOR C96-318、NF C 96-318、NF-C96-318 |
83 | NF C96-405-1986 | 混合微型结构.薄膜混合集成电路:密封管壳 NF C96-405:1986、NF C96-405、AFNOR C96-405、NF C 96-405、NF-C96-405 |
84 | NF C96-411-1984 | 混合微型结构.薄膜电阻集成电路(CIR).一般规定 NF C96-411:1984、NF C96-411、AFNOR C96-411、NF C 96-411、NF-C96-411 |
85 | NF C96-627-1-3-2000 | 波导型电介谐振器.第1-3部分:一般信息和试验条件.在微波频率内电介谐振器材料的复合相关可允许性的测量方法 NF C96-627-1-3:2000、NF C96-627、AFNOR C96-627-1-3、NF C 96-627-1-3、NF-C96-627-1-3 |
86 | NF C96-627-2-2004 | 波导型介电谐振器.第2部分:振荡器和滤波器应用指南 NF C96-627-2:2004、NF C96-627-2、AFNOR C96-627-2、NF C 96-627-2、NF-C96-627-2 |
87 | NF C96-628-1-2000 | 频率控制和选则用表面安装的压电器件.标准外形和终端引线的连接.第1部分:塑料模压外壳外形 NF C96-628-1:2000、NF C96-628、AFNOR C96-628-1、NF C 96-628-1、NF-C96-628-1 |
88 | NF C96-832-1981 | 半导体.超高频二极管.肖特基二极管.一般规定 NF C96-832:1981、NF C96-832、AFNOR C96-832、NF C 96-832、NF-C96-832 |
89 | NF C96-883-1985 | 微型结构.用消除初步缺馅的办法选择集成电路.一般规定 NF C96-883:1985、NF C96-883、AFNOR C96-883、NF C 96-883、NF-C96-883 |
90 | NF C97-001-1-2000 | 数字音频接口.第1部分:总则 NF C97-001-1:2000、NF C97-001-1、AFNOR C97-001-1、NF C 97-001-1、NF-C97-001-1 |
91 | NF C97-001-3-2004 | 数字音频接口.第3部分:消费类用途 NF C97-001-3:2004、NF C97-001-3、AFNOR C97-001-3、NF C 97-001-3、NF-C97-001-3 |
92 | NF C97-002-2001 | 数字音频.使用IEC60958的非线性PCM编码音频位流的界面 NF C97-002:2001、NF C97-002、AFNOR C97-002、NF C 97-002、NF-C97-002 |
93 | NF C97-002-5-2004 | 数字音频.应用IEC60958的非线性脉冲编码调制(PCM)编码音频位流的接口.第5部分:依据DTS(数字影院系统)格式的非线性脉冲编码调制(PCM)位流 NF C97-002-5:2004、NF C97-002-5、AFNOR C97-002-5、NF C 97-002-5、NF-C97-002-5 |
94 | NF C97-002-6-2004 | 数字音频.应用IEC60958的非线性脉冲编码调制(PCM)编码音频位流的接口.第6部分:依据MPEG-2AAC格式的非线性脉冲编码调制(PCM)位流 NF C97-002-6:2004、NF C97-002-6、AFNOR C97-002-6、NF C 97-002-6、NF-C97-002-6 |
95 | NF C97-002-7-2004 | 数字音频.应用IEC60958的非线性PCM编码音频比特流用接口.第7部分:符合ATRAC和ATRAC2/3格式的非线性PCM比特流 NF C97-002-7:2004、NF C97-002、AFNOR C97-002-7、NF C 97-002-7、NF-C97-002-7 |
96 | NF C97-005-1993 | 音频、视频和视听设备.家用数字总线 NF C97-005:1993、NF C97-005、AFNOR C97-005、NF C 97-005、NF-C97-005 |
97 | NF C97-010/A1-2002 | 电声学.倍频带和分倍频带滤波器 NF C97-010/A1:2002、NF C97-010/A1、AFNOR C97-010/A1、NF C 97-010/A1、NF-C97-010/A1 |
98 | NF C97-010-1996 | 电声学.倍频带和分倍频程频带过滤器 NF C97-010:1996、NF C97-010、AFNOR C97-010、NF C 97-010、NF-C97-010 |
99 | NF C97-030-1970 | 电声.电声仪器频率响应曲线轨迹图标度 NF C97-030:1970、NF C97-030、AFNOR C97-030、NF C 97-030、NF-C97-030 |
100 | NF C97-035-1998 | 广播磁带录像机(VTRs)用卷轴 NF C97-035:1998、NF C97-035、AFNOR C97-035、NF C 97-035、NF-C97-035 |